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EBIC Amplifier用于對半導體樣品，器件，微納結構可進行EBIC,EBAC,RCI,EBIV和EBIRCH分析。通過MM3A/MM4將探針精確定位到探測位置，信號通過弱電流測量屏蔽套件（LCMK）傳輸到SEM/FIB視頻輸入端，并通過SEM/FIB成像。
LCMK-EM低電流測量套件是用于MM3A-EM微納操縱儀的低電阻、低噪音探針支架（probe holder）。它可以對導電樣品進行低電容、低電流測量，從而增強MM3A的功能。
位置編碼的微納操縱儀（Encoded Micromanipulator），兼具MM3A-EM產品的特點的同時，各軸都具有編碼功能，可實現位置的編碼、存儲、調用。一鍵恢復探針到工作或停留位置。
kleindiek顯微納米操作，smart your lab。
德國kleindiek超微力測量系統是高精度微力測量測試系統，它與顯微操作器聯合使用,用于測量納米壓痕和超微力測量,還可用于測量細胞力學,楊氏模量,微機電系統MEMS的彈簧常數和共振頻率的彈性參數。
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